产品展示

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  精密lcr测试仪3504-40

  精密lcr测试仪?高速测量2ms?能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断?对应测试线，比较器功能/触发输出功能?3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试?3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试查出全机测量中的接触错误，提高成品率

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  LCR测试仪3504-50

  LCR测试仪 高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

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  LCR测试仪3504-60

  LCR测试仪 高速测量2ms 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

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  阻抗分析仪IM7585

  阻抗分析仪 测量频率：1MHz~1.3GHz 测量时间：Z快0.5ms（模拟测量时间） 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值） 基本精度：±0.65% rdg. 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  阻抗分析仪IM7583

  阻抗分析仪 测量频率：1MHz~600MHz 测量时间：Z快0.5ms（模拟测量时间） 基本精度：±0.65% rdg. 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  阻抗分析仪IM7581

  阻抗分析仪 测量频率1MHz~300MHz 测量时间：Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  阻抗分析仪IM7580A

  阻抗分析仪 测量频率1MHz~300MHz 测量时间：Z快0.5ms 基本精度±0.72%rdg. 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

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  阻抗分析仪IM3590

  阻抗分析仪 适用于离子运动和溶液电阻测量，1mHz ～ 200kHz的宽范围信号源 1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查 可测量电池的无负载状态产生的内部电阻 Z快2ms的高速测量，实现扫描测量的高速化 基本精度±0.05%，零件检查到研究开发测量均可对应 适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻（LCR）测量

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